超聲波探傷儀應用之球墨鑄鐵件缺陷評級
球墨鑄鐵件超聲波探傷檢測缺陷的記錄及驗收標準
依照圖2所示對需超聲波檢查的組件進行區域劃分。標準對區域1和區域2的驗收等級是不同的。
圖2區域類型及分類
A.根據表1記錄缺陷。該記錄的缺陷為:
λ 反射波高度超過表1記錄標準的缺陷。
λ 超過表1中底面回波高度降低量標準的底面回波降低的缺陷,注意這種底面回波降低不能是由幾何形狀或耦合引起的。
B.缺陷的大小由下述方法決定:
ν dB中紀錄標準之上的最大回波高度或底面回波最大降低值都應該被測量和記錄。
ν 在相關的記錄標準下,缺陷的范圍應該用6dB法來決定。
C.缺陷大小修正:
假如缺陷的大小比聲束的直徑小應該被降低,允許降低值已經在表2中給出。
D.缺陷評估,表1中有三種缺陷類型:
類型一,非測量性延伸缺陷
非測量性延伸缺陷的反射波實際的超聲波波程長度比超聲波束的直徑小(見圖3)。這類缺陷的大小不用報告,依照表1的參考標準(以平底孔為參考)和深度延伸進行評估。
類型二,測量性延伸缺陷:
測量性延伸缺陷的反射波實際聲波波程長度比聲波束的直徑大。次類缺陷的大小應該報告,并且應該通過探測兩側表面超出了實際區域和壁厚規定的參考標準(以平底孔為參考)的點來決定這些缺陷的深度延伸。缺陷應依照表1中的參考標準、區域及深度延伸。
類型三,底面回波降低
超過的區域和壁厚規定的記錄水平的底面回波降低。此類缺陷根據表1進行評估,評估是在缺陷的范圍在表面上的投影被確定后進行,投影的邊界點是底面回波相對于記錄標準降低了6dB的點。在測試區域的底面回波降低應該不需要深度延伸的確定就可以驗收通過,在測試區域降低應該小于記錄水平+6dB。當底面回波降低量大于記錄標準6dB時定義為底面回波全部消失。
表1: 球墨鑄鐵的UT記錄和驗收標準
實際截面壁厚 | (mm) | <20 | <30 | <50 | <80 | <130 | ≧130 | |
記錄標準 所有超出記錄標準的缺陷都應被記錄 | ||||||||
底面回波降低 | (dB) | 12 | 12 | 12 | 14 | 16 | 18 | |
反射體區域1 | (平底孔) | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 3 | 3 | 3 | |
反射體區域2 | (平底孔) | 3 | 3 | 4 | 5 | 8 | 8 | |
非測量性延伸的缺陷驗收標準(區域): | ||||||||
等價反射體(1)的最大直徑 區域1 | (平底孔/mm) | 3 | 3 | 3 | 4 | 5 | 6 | |
等價反射體(1)的最大直徑 區域2 | (平底孔/mm) | 3 | 3 | 3 | 8 | 10 | 10 | |
測量性延伸的缺陷的驗收標準(區域): | ||||||||
表面與缺陷的最小距離
| 區域1
區域2 | (mm) | ≥6 | ≥7 | ≥8 | ≥10 | ≥12 | ≥16 |
(mm) | ≥6 | ≥7 | ≥8 | ≥10 | ≥12 | ≥16 | ||
缺陷的最大面積+底面回 區域1 波的全部損失(2)(3) | (mm2) | (3) | 600 | 600 | 1000 | 1000 | 1000 | |
缺陷的最大深度延伸, 區域1 在斷面的%內測量 區域2 | (%) | 10 | 10 | 10 | 10 | 10 | 10 | |
(%) | 20 | 20 | 20 | 20 | 20 | 20 |
(1) 如果缺陷有深度延伸,那么必須按照區域的深度延伸規則進行評估。
(2) 底面回波的全部損失=記錄標準+6dB。
(3) 缺陷的掃描表面上的最大允許長度等于實際斷面T。如果兩個相鄰缺陷之間的距離小于它們兩者之中最大的一個尺寸,那么它們可以認為是一個缺陷。
(4) 通過區域2中的底面回波的全部損失得到的深度延伸應該利用對兩側表面上點的探測來確定,在這些表面上,就區域1內反射器而言,能夠發現一個超過記錄標準的直接反射波。接著應該依據就缺陷的深度延伸而言的規則,對缺陷進行評估。覆蓋區域1和區域2的缺陷應該具有一個實際斷面T的最大的總深度延伸,并且區域1的深度延伸應至多為實際斷面T 的10%。對于在區域1內缺陷的最大區域來說的規則應該被考慮。
如果一個缺陷的最大長度小于實際斷面T,那么區域2 的最大深度延伸可以被增加到30%。
(5) 在區域2 內,記錄標準和記錄標準+6dB之間的底面回波降低可以驗收通過而不必測量。
表2. 聲波束直徑的補償
超聲波路徑(mm)(1) | 超聲波波束直徑 SEB2(mm) | 超聲波波束直徑MSEB2(mm) | 超聲波波束直徑 B2S(mm) |
<20 | 15 | 5 | - |
20-60 | 15 | 15 | - |
60-120 | 20 | 20 | 12 |
(1) 超聲波路徑被定為從掃描表面到缺陷之間距離的兩倍
非測量性延伸缺陷 測量性延伸缺陷
圖3 缺陷類型