XRD（X-射線繞射分析）是一種功能強(qiáng)大的非破壞性分析技術(shù)，用于偵測晶體材料的特性。它提供結(jié)構(gòu)、相位、首選的晶體取向（紋理）和其他結(jié)構(gòu)參數(shù)分析，例如平均粒度、結(jié)晶度、張力和晶體缺陷等等。

Q:

兩個(gè)峰值為什么這么高？代表什么物質(zhì)呢？